測(cè)試過程中樣品受潮損壞，快溫變小型高低溫試驗(yàn)箱需要額外配除濕功能嗎？

點(diǎn)擊次數(shù)：92 更新時(shí)間：2025-10-14

一、樣品受潮的核心原因：溫變與濕度的隱性關(guān)聯(lián)

快溫變小型高低溫試驗(yàn)箱在實(shí)現(xiàn) - 70℃至 180℃寬域溫變時(shí)，箱內(nèi)空氣濕度會(huì)隨溫度波動(dòng)發(fā)生顯著變化：當(dāng)設(shè)備從高溫快速降溫至露點(diǎn)以下（如從 60℃降至 20℃），空氣中的水蒸氣會(huì)凝結(jié)成液態(tài)水，附著在樣品表面或測(cè)試夾具上；若測(cè)試樣品為電路板、鋰電池極片等吸濕性材料，水分滲透后可能引發(fā)短路、容量衰減等問題。某電子企業(yè)曾在無除濕功能的快溫變小型高低溫試驗(yàn)箱中測(cè)試傳感器，僅 3 次溫變循環(huán)后，樣品因受潮出現(xiàn)信號(hào)漂移，直接導(dǎo)致測(cè)試報(bào)廢。

需注意的是，并非所有測(cè)試場(chǎng)景都需除濕功能：若樣品本身具備防水特性（如密封外殼的汽車零部件），或測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)僅要求溫度循環(huán)（無濕度指標(biāo)），基礎(chǔ)款快溫變小型高低溫試驗(yàn)箱即可滿足需求；但當(dāng)測(cè)試涉及 “溫濕度綜合循環(huán)”（如 IEC 60068-2-30 標(biāo)準(zhǔn)），或樣品為半導(dǎo)體芯片、新能源電池材料等濕度敏感件時(shí)，除濕功能成為必要配置。

二、除濕功能的兩種配置方案：適配不同測(cè)試需求

針對(duì)快溫變小型高低溫試驗(yàn)箱，行業(yè)主流除濕方案分為兩類，用戶可根據(jù)需求選擇：

低溫冷凝除濕：利用設(shè)備制冷系統(tǒng)，將箱內(nèi)空氣溫度降至露點(diǎn)以下，使水蒸氣凝結(jié)成水后通過排水孔排出。該方案成本較低，濕度控制范圍為 20%-95% RH，適用于對(duì)濕度精度要求不高的場(chǎng)景（如汽車零部件溫濕度循環(huán)測(cè)試），可直接集成在現(xiàn)有快溫變小型高低溫試驗(yàn)箱中，無需大幅改造設(shè)備結(jié)構(gòu)。

轉(zhuǎn)輪除濕：通過蜂窩狀除濕轉(zhuǎn)輪吸附空氣中的水分，再經(jīng)高溫再生段將水分排出，濕度控制精度可達(dá) ±3% RH，能實(shí)現(xiàn) 5% RH 的低濕度環(huán)境。該方案適配高精度測(cè)試需求（如半導(dǎo)體芯片的濕熱老化測(cè)試），需在快溫變小型高低溫試驗(yàn)箱內(nèi)部增加轉(zhuǎn)輪模塊與風(fēng)道系統(tǒng)，雖成本較高，但能滿足嚴(yán)苛的濕度控制標(biāo)準(zhǔn)。