近日，廣皓天與中國(guó)某研究所正式達(dá)成戰(zhàn)略合作，聯(lián)合共建 “芯片環(huán)境測(cè)試中心”。該中心聚焦車(chē)規(guī)級(jí)、工業(yè)級(jí)芯片的環(huán)境可靠性驗(yàn)證，其中廣皓天自主研發(fā)的大型高低溫試驗(yàn)設(shè)備憑借精準(zhǔn)控溫能力與穩(wěn)定性能，成為芯片溫度測(cè)試環(huán)節(jié)的核心驗(yàn)證設(shè)備，為我國(guó)芯片自主研發(fā)提供關(guān)鍵測(cè)試支撐。

相較于傳統(tǒng)測(cè)試設(shè)備，廣皓天為該中心定制的大型高低溫試驗(yàn)設(shè)備具備三大核心優(yōu)勢(shì)：一是控溫精度達(dá) ±0.5℃，可模擬高海拔、極寒地區(qū)等復(fù)雜環(huán)境下的溫度波動(dòng)，精準(zhǔn)捕捉芯片參數(shù)變化；二是設(shè)備腔體容積達(dá) 500L，支持多批次芯片同步測(cè)試，且配備多通道數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)，能實(shí)時(shí)記錄不同溫度段下芯片的電流、電壓、信號(hào)傳輸?shù)汝P(guān)鍵數(shù)據(jù)；三是搭載抗電磁干擾模塊，避免測(cè)試過(guò)程中外部信號(hào)對(duì)芯片性能數(shù)據(jù)的干擾，確保驗(yàn)證結(jié)果的準(zhǔn)確性。

“在車(chē)規(guī)級(jí)芯片低溫可靠性測(cè)試中，廣皓天的大型高低溫試驗(yàn)設(shè)備表現(xiàn)尤為突出。” 中科院該研究所項(xiàng)目負(fù)責(zé)人介紹，“我們?cè)ㄟ^(guò)該設(shè)備對(duì)某款車(chē)規(guī) MCU 芯片進(jìn)行 - 40℃至 125℃的循環(huán)沖擊測(cè)試，設(shè)備連續(xù)運(yùn)行 3000 小時(shí)，精準(zhǔn)輸出芯片在溫度驟變下的穩(wěn)定性數(shù)據(jù)，為芯片設(shè)計(jì)優(yōu)化提供了重要依據(jù)。” 目前，該中心已通過(guò)大型高低溫試驗(yàn)設(shè)備完成 12 款國(guó)芯片的環(huán)境可靠性驗(yàn)證，其中 3 款芯片成功通過(guò)車(chē)規(guī)認(rèn)證，進(jìn)入車(chē)企供應(yīng)鏈。