產(chǎn)品列表 / products
型號:TEB-800PF
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更新時間:2025-10-30
價格:58000
在線留言| 品牌 | 廣皓天 | 產(chǎn)地 | 國產(chǎn) |
|---|---|---|---|
| 溫度范圍 | -70℃~+150℃ | 升溫時間 | 士1.0°C(-20-+100°C)±1.5°C(+100.1~+150°C)士 |
| 降溫時間 | 非線性升溫速率( 5°C/10°C/15°C/20°C/25°C)線性升溫速率(5°C/10°C/1 | 外殼材料 | 防銹處理冷軋鋼板士2688粉體涂裝或SUS304不銹鋼 |
| 內(nèi)體材料 | 不銹鋼板(SUS304CP種,2B拋光處理) | 制冷方式 | 機械式雙級壓縮制冷方式(氣冷冷凝器或水冷換熱器) |
生產(chǎn)廠家廣東皓天檢測儀器有限公司擁有專業(yè)的生產(chǎn)研發(fā)技術(shù),一站式周到服務(wù)。作為一家專注于試驗設(shè)備產(chǎn)品的大型儀器制造商,皓天設(shè)備致力于為消費者提供技術(shù)、品質(zhì)的優(yōu)秀產(chǎn)品。
測試效率: 快速溫變能力大幅縮短了單個測試循環(huán)的時間,加速了產(chǎn)品研發(fā)和質(zhì)量驗證周期。
揭示潛在缺陷: 更嚴(yán)苛的溫度變化速率能有效激發(fā)產(chǎn)品在漸變溫度下難以暴露的潛在缺陷,如虛焊、裂紋等。
節(jié)能設(shè)計: 在同等性能下,通過系統(tǒng)優(yōu)化實現(xiàn)了更高的能效比,降低了長期運行成本。
緊湊靈活: 小型化設(shè)計節(jié)省實驗室空間,便于在研發(fā)臺面或生產(chǎn)線旁靈活部署。
智能便捷: 大尺寸觸摸屏和友好的用戶界面,使得復(fù)雜的快速溫變測試編程與監(jiān)控變得簡單直觀。


高動態(tài)響應(yīng): 在整個溫度范圍內(nèi)均能保持設(shè)定的高升降溫速率,無顯著性能衰減。
溫度穩(wěn)定性強: 即使在快速變化過程中,箱內(nèi)溫度波動度和均勻度仍能保持在優(yōu)異水平(如±0.5℃和±2.0℃)。
長期可靠性: 關(guān)鍵元器件選材精良,設(shè)計余量充足,確保設(shè)備在長期進行快速溫變應(yīng)力測試時依然穩(wěn)定可靠。
出色的重復(fù)性: 相同的測試程序能產(chǎn)生高度一致的測試結(jié)果,保證了數(shù)據(jù)的可比性與可信度。
汽車電子: 發(fā)動機控制單元(ECU)、傳感器、電池管理系統(tǒng)(BMS)模塊的快速溫度循環(huán)測試。
航空航天: 機載電子設(shè)備、導(dǎo)航通信模塊的環(huán)境適應(yīng)性篩選與鑒定。
半導(dǎo)體與IC: 芯片、晶圓、封裝器件的溫度循環(huán)測試與可靠性篩選。
消費電子: 智能手機、可穿戴設(shè)備、服務(wù)器組件的加速壽命測試。
科研與質(zhì)檢: 新材料、新產(chǎn)品的可靠性研究與質(zhì)量一致性檢驗。


該設(shè)備是一款集成了高性能制冷/加熱系統(tǒng)與智能控制技術(shù)的小型化環(huán)境測試設(shè)備。它專為模擬嚴(yán)酷的溫度變化環(huán)境而設(shè)計,通過實現(xiàn)快速、精確且無滯后的溫度變化,為各類電子元器件、模塊及材料提供高效的可靠性驗證手段。其緊湊的機身內(nèi)蘊含強大的性能,是現(xiàn)代實驗室進行應(yīng)力篩選、質(zhì)量鑒定和研發(fā)驗證的理想選擇。
主要用于執(zhí)行:
溫度循環(huán)測試: 在高溫和低溫極限之間進行快速交替,考核產(chǎn)品的熱機械疲勞特性。
溫度沖擊測試: 提供兩槽式試驗箱無法實現(xiàn)的特定速率下的連續(xù)溫度變化測試。
高低溫儲存試驗: 檢驗產(chǎn)品溫度條件下的耐受性。
加速應(yīng)力測試(HALT): 通過施加快速溫變等應(yīng)力,快速發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品設(shè)計缺陷。


溫度范圍: -70℃ ~ +150℃ (或定制其他范圍)
升溫速率: 5℃ ~ 10℃/min (介于+25℃高至溫,空載,非線性)
降溫速率: 5℃ ~ 8℃/min (介于+25℃至低溫,空載,非線性)
溫度波動度: ±0.5℃
溫度均勻度: ±2.0℃
內(nèi)容積: 30L, 64L, 100L 等
控制器: 7英寸及以上全彩觸摸屏,支持程序編輯與數(shù)據(jù)記錄。
設(shè)備的設(shè)計與性能嚴(yán)格遵循以下國際及國家標(biāo)準(zhǔn):
IEC 60068-2-1: 環(huán)境試驗 第2-1部分:試驗A:低溫
IEC 60068-2-2: 環(huán)境試驗 第2-2部分:試驗B:高溫
IEC 60068-2-14: 環(huán)境試驗 第2-14部分:試驗N:溫度變化
GB/T 2423.1: 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗A:低溫
GB/T 2423.2: 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗B:高溫
GJB 150.3/4: 裝備實驗室環(huán)境試驗方法 高溫/低溫試驗
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