產(chǎn)品列表 / products
相關(guān)文章 / article
型號(hào):TEB-600PF
瀏覽量:902
更新時(shí)間:2025-09-25
價(jià)格:79560
在線留言| 品牌 | 廣皓天 | 產(chǎn)地 | 國(guó)產(chǎn) |
|---|---|---|---|
| 升溫時(shí)間 | 士1.0°C(-20-+100°C)±1.5°C(+100.1~+150°C)士 | 內(nèi)體材料 | 不銹鋼板(SUS304CP種,2B拋光處理) |
| 制冷方式 | 機(jī)械式雙級(jí)壓縮制冷方式(氣冷冷凝器或水冷換熱器) | 溫度范圍 | -70°C~+150°C |
| 降溫時(shí)間 | 非線性升溫速率( 5°C/10°C/15°C/20°C/25°C)線性升溫速率(5°C/10°C/1 |
生產(chǎn)廠家廣東皓天檢測(cè)儀器有限公司擁有專業(yè)的生產(chǎn)研發(fā)技術(shù),一站式周到服務(wù)。作為一家專注于試驗(yàn)設(shè)備產(chǎn)品的大型儀器制造商,皓天設(shè)備致力于為消費(fèi)者提供技術(shù)、品質(zhì)的優(yōu)秀產(chǎn)品。
采用超高精度PID智能控制器,配備高穩(wěn)定性、低漂移的鉑電阻傳感器。系統(tǒng)具備強(qiáng)大的程序功能,可模擬從“雙85"靜態(tài)存儲(chǔ)到帶快速溫變循環(huán)的動(dòng)態(tài)測(cè)試剖面。數(shù)據(jù)記錄功能能完整追蹤整個(gè)測(cè)試過(guò)程的溫濕度曲線,為失效分析提供可靠依據(jù)。

采用高性能機(jī)械壓縮復(fù)疊式制冷系統(tǒng)。針對(duì)“雙85"測(cè)試中高溫高濕環(huán)境下仍需強(qiáng)力除濕的特點(diǎn),系統(tǒng)進(jìn)行了專門優(yōu)化,確保在高溫段也能提供強(qiáng)大的制冷能力,實(shí)現(xiàn)快速、精確的濕度控制,避免過(guò)沖。
采用鍋爐式蒸汽加濕方式,產(chǎn)生純凈蒸汽,避免因水質(zhì)不純污染箱內(nèi)環(huán)境或腐蝕芯片表面。除濕系統(tǒng)響應(yīng)迅速,能快速達(dá)到并穩(wěn)定維持所需的低濕條件(如進(jìn)行干燥恢復(fù)測(cè)試)。

精準(zhǔn)可靠:為“雙85"測(cè)試量身定制的性能,確保測(cè)試條件的準(zhǔn)確性與重復(fù)性,符合JEDEC等行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)。
長(zhǎng)期穩(wěn)定:耐腐蝕材料和堅(jiān)固結(jié)構(gòu)保障設(shè)備在條件下長(zhǎng)期連續(xù)運(yùn)行。
數(shù)據(jù)可信:優(yōu)異的均勻性和穩(wěn)定性,確保每批芯片測(cè)試結(jié)果的可比性
高效靈活:快速的溫變能力不僅可用于穩(wěn)態(tài)測(cè)試,還可進(jìn)行高加速應(yīng)力篩選,提升測(cè)試效率。
安全防護(hù):完備的報(bào)警系統(tǒng)(超溫、低水位、漏電等)保護(hù)昂貴的芯片樣品與設(shè)備本身
“雙85測(cè)試"(85℃溫度,85%相對(duì)濕度)是評(píng)估半導(dǎo)體芯片耐濕性、抗腐蝕性和長(zhǎng)期工作可靠性的核心加速測(cè)試方法。它能快速暴露芯片封裝中的缺陷,如:
封裝樹脂吸濕 導(dǎo)致的分層 和開裂。
焊盤和引線 的電化學(xué)腐蝕。
內(nèi)部金屬化 的遷移和腐蝕。
通過(guò)此測(cè)試,可以預(yù)判芯片在終端產(chǎn)品(如汽車電子、戶外設(shè)備)中的長(zhǎng)期服役表現(xiàn),是保證產(chǎn)品質(zhì)量與可靠性的關(guān)鍵環(huán)節(jié)。


溫度范圍:-40℃ ~ +150℃ (重點(diǎn)優(yōu)化+60℃至+130℃區(qū)間控制精度)
濕度范圍:10% ~ 98% R.H. (確保能穩(wěn)定精確地維持85%RH工況)
溫變速率:可選配 ±3℃/min 至 ±10℃/min,滿足快速溫變應(yīng)力篩選需求。
溫度波動(dòng)度:≤±0.3℃ (穩(wěn)定性)
溫度均勻度:≤±1.5℃ (確保所有芯片處于一致環(huán)境)
濕度偏差:±1.5% R.H. (在85%RH點(diǎn)尤為關(guān)鍵)


本設(shè)備專為半導(dǎo)體行業(yè)的高標(biāo)準(zhǔn)可靠性測(cè)試而優(yōu)化,核心亮點(diǎn)在于其長(zhǎng)期運(yùn)行穩(wěn)定性、精確的溫濕度控制以及針對(duì)芯片測(cè)試的細(xì)節(jié)考量。設(shè)備能夠在85℃/85%RH 的高濕熱條件下進(jìn)行長(zhǎng)達(dá)數(shù)千小時(shí)的連續(xù)不間斷測(cè)試,內(nèi)部結(jié)構(gòu)采用全不銹鋼并經(jīng)過(guò)特殊防腐處理,有效抵抗?jié)駸峥諝獾那治g,確保在整個(gè)測(cè)試周期內(nèi)性能無(wú)衰減,為芯片的壽命評(píng)估和失效分析提供可靠的環(huán)境條件。
相關(guān)產(chǎn)品